采用OPTIV雙（shuāng）Z軸技術，兩個（gè）Z軸獨立運動（dòng），極大的減少了複雜三維零部件測量時不同傳感（gǎn）器互相切換的時間。

基於三維CAD模型在線編寫、自動選（xuǎn）擇測（cè）量策（cè）略，減小測量工作量，大（dà）大（dà）簡化了測量任務。

將高（gāo）精度轉台應用於手機殼的多麵測量，不需重新裝夾，不丟失絕對（duì）坐標係，縮短檢測周期，大大提高操作的靈活性。

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  高分辨率采用分（fèn）辨率高達10納（nà）米的白光傳感器（CWS）進行表麵掃描測量。掃描速度高、能清晰透（tòu）視曲麵，同時掃描的數據可（kě）用於逆向工程或CAD模型對（duì）比。

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  高效率針對導線架的（de）檢測特點，采用“多重捕獲”功（gōng）能，位於同一視場內的特征一次測量完成，極大提高測量效率。

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  高精度專利設計的雙光學係統（tǒng），小倍率快速定位、大倍率精（jīng）準測量；搭配特殊的平（píng）行光源準確識別“金手（shǒu）指” 上、下幅，為PCB板的檢測提供了完美的解決方案。

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  高合（hé）格率電子產品金屬外殼加工中，使用在機側頭來找正分中變形量比較大的（de）毛坯（pī），使加工精度及外觀（guān）合格率大幅度提高，外加一致性（xìng）得到顯著提高。推薦配置：紅外側頭IRP40.02+宏程序。